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島(dao)津(jin)微(wei)焦點X射(she)線(xian)(xian) SMX-6010是(shi)一(yi)款堅直照射(she)型x射(she)線(xian)(xian)檢查(cha)設備，配備了(le)島(dao)津(jin)生產的微(wei)焦點x射(she)線(xian)(xian)發生器和高(gao)(gao)分(fen)辦率平板(ban)探測器。通過高(gao)(gao)清晰(xi)度和寬(kuan)動態范圍圖像，可以觀察(cha)到細微(wei)的內(nei)部結(jie)構和缺陷。此外，可以簡單(dan)快(kuai)速地進行透視/CT模式切換，根(gen)據工(gong)作要求實施多種觀察(cha)。Xslicer SMX-6010所覆蓋的檢查(cha)從(cong)體積不(bu)斷縮(suo)小的電子(zi)元(yuan)件到密度日益(yi)提高(gao)(gao)的多層實裝(zhuang)基(ji)板(ban)。
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二(er)手 島津 SMX-1000plus X射線透視設(she)備(bei)為高(gao)(gao)密度封(feng)裝基板(ban)和(he)BGA、CSP、系統LSI等鍵和(he)情(qing)況的高(gao)(gao)倍率(lv)非破壞透視檢(jian)查而設(she)計，適用(yong)于(yu)IC封(feng)裝檢(jian)查、元(yuan)器(qi)件(jian)生產和(he)PCBA等產品的質量控制，特別是對于(yu)大尺寸(cun)基板(ban)和(he)大量零部件(jian)的連(lian)續檢(jian)查具(ju)有優勢。SMX-1000/1000L采用(yong)FPD和(he)密封(feng)式微焦X-射線管(guan)，具(ju)備(bei)高(gao)(gao)分辨(bian)率(lv)成(cheng)像(xiang)能力，并通過應用(yong)軟件(jian)實現高(gao)(gao)效(xiao)檢(jian)查。
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出租出售二手島津SMX-1000plus是業界檢查機器的(de)(de)參照系，現在我們在此基礎上(shang)開(kai)發出了更(geng)加簡潔的(de)(de)X射線檢查裝置SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus。新(xin)機型將(jiang)過去備受好評(ping)的(de)(de)操(cao)作性能進行(xing)了進一步提升，并使操(cao)作界面(mian)更(geng)加簡潔易懂，增大(da)的(de)(de)透視圖像(xiang)和外觀圖像(xiang)提高了圖像(xiang)的(de)(de)易讀(du)性。
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二手島津 SMX-1000plus，X射(she)線檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)機，X光(guang)檢(jian)查機，SMT檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)銷(xiao)售租賃和(he)代(dai)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)業務擁有30余臺無損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)機及專業的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)應(ying)用(yong)(yong)工程師團(tuan)隊，可為客戶(hu)提供(gong)專業的(de)(de)產品質量分析結果(guo)；無損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技(ji)術正(zheng)廣泛地(di)應(ying)用(yong)(yong)于(yu)汽車、航(hang)(hang)空航(hang)(hang)天(tian)、科學(xue)研究、增材制(zhi)造、智能手機等工業領域，可應(ying)用(yong)(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)鋰電(dian)池 SMT焊接、 IC封(feng)裝、 IGBT半導體(ti)、 LED燈條(tiao)背光(guang)源氣泡占空比檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce) BGA芯片檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce) 、壓(ya)鑄
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島(dao)(dao)津(jin)微(wei)焦點X射(she)線(xian)SMX-6000是島(dao)(dao)津(jin)公(gong)司采(cai)用自(zi)制的(de)(de)微(wei)焦點X射(she)線(xian)發生器(qi)和(he)高(gao)靈敏(min)度平(ping)板接收器(qi)的(de)(de)一款帶有(you)CT功能的(de)(de)X射(she)線(xian)透視(shi)系統。順暢的(de)(de)切換將透視(shi)觀察和(he)斷面觀察快速連接在一起，全新的(de)(de)CT處理(li)引擎能夠進(jin)行全自(zi)動(dong)校準、高(gao)速拍攝以及(ji)重構(gou)。高(gao)放大倍數(shu)、高(gao)分辨率的(de)(de)圖像(xiang)不會變形，從而(er)可以觀察電子元(yuan)器(qi)件等平(ping)板狀樣品內部的(de)(de)細(xi)微(wei)構(gou)造和(he)缺(que)陷。
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