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二手日本電子 JSM-7900F 場發射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發揮其最佳性能。

二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發的電光系統，具有更多的自動化功能，結合了自動軸功能，包括自動橫梁設置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結構。

二手 日立 S-3400N 掃描電鏡 在材料科學、半導體研發和工業檢測領域，高精度微觀分析能力是推動技術突破的關鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其成像性能和多功能分析能力，成為科研機構與企業的核心檢測工具。作為行業的設備解決方案供應商,推出的日立 S-3400N 租售服務，以靈活的模式、專業的技術支持和全周期服務體系，為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.

二手JEOL IT-500HR場發射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優化的透鏡系統，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領域樣品觀測與成分檢測需求。

二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設備在半導體制造和納米材料研究領域具有廣泛的應用

二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續可調電壓精準適配各類樣品，配合E×B技術實現SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應用范圍：微區形貌、微區成分分析。可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

二手 牛津 EBSD NordlysMax3實時采集、標定和顯示結果速度高達1580點/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時采集分析EBSD和EDS數據，速度不衰減 同時保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員

二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應用于無機材料、高分子材料、復合材料、納米材料、半導體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結構觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質分析 ? 微區成份分析。

Hitachi 二手SU5000熱場式場發射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。